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    冷场发射扫描电子显微镜
    发布人:分析测试中心  发布时间:2020-09-16   浏览次数:606

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    冷场发射扫描电子显微镜

    Field Emission Scanning Electron Microscope

    仪器型号:SU8010

    生产厂家:日本Hitachi公司

    仪器价格:330

     

    技术参数:

      

    ◆超高分辨率成像功能和超低加速电压性能(1.0 kV时,分辨率可达1.3 nm);

    ◆放大倍率:20-800000(照像倍率)60-2,000,000(显示倍率);

    ◆电子枪:冷场发射;

    ◆加速电压:0.5 kV-30 kV(标准模式),着陆电压:0.1 kV-2.0 kV(减速模式);

    ◆物镜光阑(加热型),4孔可选,在真空系统外切换。

      

    仪器用途:

      

    ◆显微结构的分析:材料的形貌、结构、缺陷和界面的微观分析,包括衍衬成像,电子衍射,高分辨分析;

    ◆材料微观结构成分分析:成分的定性和半定量分析,元素的点、线和面分析,材料的形貌、结构、缺陷和界面的微观分析。